Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Przedstawiamy wyjątkową publikację - kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora - profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

• Tytuł: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
• Autor: Stanisław Adamczak
• Wydawnictwo Wydawnictwo Naukowe PWN
• Oprawa: Miękka
• Rok wydania: 2023
• Ilość stron: 450
• Stan: nowy, pełnowartościowy produkt
• Model: 9788301231583
• Język: polski
• Podtytuł: Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
• ISBN: 9788301231583
• EAN: 9788301231583
• Wymiary: 16.5x23.5cm